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高溫原位納米壓痕儀

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產(chǎn)品型號InSEM HT

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更新時間：2025-01-12 13:32:05瀏覽次數(shù)：98次

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上海納騰儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

詳細介紹

InSEM HT（高溫）通過在真空環(huán)境中單獨加熱和樣品來測量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或獨立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開發(fā)新的實驗?？茖W出版物表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗數(shù)據(jù)吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開發(fā)研究材料的一個非常有價值的工具。

連續(xù)剛度測量（CSM）

CSM技術(shù)包括在壓痕過程中測量力學性能隨深度、力、時間或頻率變化的函數(shù)。該方案采用恒定應(yīng)變速率試驗，測量硬度和模量作為深度或載荷的函數(shù)，是學術(shù)界和工業(yè)界的試驗方法。CSM還用于其他高級測試，包括用于存儲和損耗模量測量的ProbeDMA™方法和AccuFilm™基底獨立測量。CSM集成在控制器和InView軟件中，以提供的易用性和數(shù)據(jù)質(zhì)量。

NanoBlitz3D

NanoBlitz 3D利用Inforce 50加載器采用玻氏壓頭測量高E（>3Gpa）材料的三維測量圖。NanoBlitz壓痕小于1個點/ s，最多10萬個壓痕（300x300陣列），并提供每個壓痕在載荷下的楊氏模量、硬度和剛度，大量的測試提高了統(tǒng)計的準確性。NanoBlitz 3D還提供可視化軟件和數(shù)據(jù)處理功能。